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Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心水文儀器類DP-IR-2雙波段發(fā)射率測試儀/遠紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀/發(fā)射率檢測儀
雙波段發(fā)射率測試儀/遠紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀/發(fā)射率檢測儀
雙波段發(fā)射率測試儀/遠紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀/發(fā)射率檢測儀 型號:DP-IR-2
雙波段發(fā)射率測試儀 、遠紅外線測試儀采用反射率法的測試原理,即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率,而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測量常溫樣品在3~5um、8~14um、1~22um三個波段發(fā)射率。對需要的用戶,通過的控溫加熱裝置,在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品,行發(fā)射率變溫測量。該儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對材料紅外輻射特性的測量研究。目前已在西北核所,東南大學(xué)等單位使用。
儀器特點:
1.儀器中有小型標準黑體輻射源,采用六位度微機控溫儀(能顯示到1mk),使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍,而且地提了儀器在測量時的可靠性和穩(wěn)定性。
2.采用了的光學(xué)調(diào)制,使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3.在儀器中,考慮到樣品漫反射引起的測量誤差,除鏡反射(MR)探測通道外,還增設(shè)了專門的漫反射(DR)補償通道,從而確保了儀器的測量度。
4.在信號及電子學(xué)處理上采用鎖相和微電子,較好地實現(xiàn)了對微弱信號的探測,步提了儀器性能。
5.本儀器操作簡單、使用方便、測量快速。
6.可按需更換濾光片,在多個紅外光譜波段內(nèi)行測試。
7.在測量過程中不損傷被測樣品。
8.本儀器帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。
主要標
1.測量波段:3~5um、8~14um、1~22um
(若用戶有要求,可定制不同波段濾光片)
2.發(fā)射率測量范圍:0.1~0.99
3.靈敏度NE△ε:0.001
4.示值誤差:±0.02 (ε>0.50)
5.重復(fù)性:±0.01
6.樣品溫度:常溫(用戶為常溫~300℃)
7.樣品尺寸:>Ф50
8.測量時間:3秒后按測量鍵E,即顯示ε測量值。
9.顯示方法:LED數(shù)字顯示,末位0.001
10.電 源: 交流220V 50HZ
2.
陶瓷磚平整度、直角度、邊直度綜合測定儀 型號:DP-ZCY
、陶瓷磚平整度、直角度、邊直度綜合測定儀 概述
該儀器適用于測定各種墻面磚、地面磚尺寸及形狀特性之儀器,其所測參數(shù)包括面磚的邊直度、直角度、平整度(中心彎曲度、邊彎曲度、翹曲度)等幾項標。本產(chǎn)品符合:GB/T3810.2-2006,idt ISO 10545-2-1995《陶瓷磚-尺寸和表面質(zhì)量的檢驗》的要求。
二、陶瓷磚平整度、直角度、邊直度綜合測定儀 主要參數(shù)
1、測量度:±0.1mm
2、測量范圍:60×60~600×600 ,60×60~800×800,60×60~1000×1000mm用戶自選;
3、標準板客戶選購(選購件)
4、根據(jù)用戶要求可選用數(shù)顯表。(選購件)
三、陶瓷磚平整度、直角度、邊直度綜合測定儀 原理及結(jié)構(gòu)
本儀器由支承平板、可移動的左支座和右支座組成個直角坐標系。在平板上有三個等支承銷與陶瓷面磚類似外形和具有理想尺寸的標準板行探測,并將儀表值調(diào)整至適當(dāng)位置,并記下該示值。然后,以被測陶瓷面磚取代標準板,在不移動測量點的情況下,分別測出六項標參數(shù)。左、右支座及中心測量支座可在平板上作平行移動,組成不同位置的空間座標,以適應(yīng)不同規(guī)格尺寸陶瓷面磚的測定。
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